Обозначение | Заглавие на русском языке | Статус | Язык документа | Цена (с НДС 20%) в рублях |
|
Оптика и фотоника. Оптические фильтры объемного поглощения
|
Действует |
На языке оригинала
|
22446,00
|
|
|
Оптика и фотоника. Требования к эталонному словарю. Часть 1. Общий обзор по организации и структуре
|
Действует |
На языке оригинала
|
16704,00
|
|
|
Оптика и фотоника. Требования к эталонному словарю. Часть 2. Определение классов и свойств
|
Действует |
На языке оригинала
|
37584,00
|
|
|
Оптика и фотоника. Электронный обмен электронными данными. Часть 1. Информационная модель NODIF
|
Заменен |
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
Оптика и фотоника. Электронный обмен электронными данными. Часть 1. Информационная модель NODIF
|
Действует |
На языке оригинала
|
33756,00
|
|
|
Оптика и фотоника. Электронный обмен электронными данными. Часть 2. Отображение классов и свойств, определяемых в ISO 23584
|
Действует |
На языке оригинала
|
22446,00
|
|
|
Микропучковый анализ. Аналитическая трансмиссионная электронная микроскопия. Методы калибрующего увеличения изображения с применением стандартных материалов с периодической структурой
|
Заменен |
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
Анализ микролучевой. Аналитическая электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с применением стандартных образцов с периодической структурой
|
Заменен |
На языке оригинала
|
Нет
|
Перевод на русский язык
|
Нет
|
|
|
Анализ микролучевой. Аналитическая электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с применением стандартных образцов с периодической структурой
|
Действует |
На языке оригинала
|
30102,00
|
|
|
Оптика и фотоника. Методы контроля дефектов поверхности оптических элементов. Часть 2. Машинное зрение
|
Действует |
На языке оригинала
|
10962,00
|
|
|
Оптика и фотоника. Интерферометрическое измерение оптических элементов и систем. Часть 1. Термины, определения и фундаментальные связи
|
Действует |
На языке оригинала
|
30102,00
|
|
|
Оптика и фотоника. Интерферометрическое измерение оптических элементов и систем. Часть 2. Методы измерения и оценки
|
Заменен |
На языке оригинала
|
Нет
|
|
|
Оптика и фотоника. Интерферометрическое измерение оптических элементов и систем. Часть 2. Методы измерения и оценки
|
Действует |
На языке оригинала
|
33756,00
|
|
|
Оптика и фотоника. Интерферометрическое измерение оптических элементов и систем. Часть 3. Калибровка и валидация оборудования для интерферометрического испытания и измерений
|
Действует |
На языке оригинала
|
30102,00
|
|
|
Оптика и фотоника. Датчики волнового фронта для описания оптических систем и компонентов
|
Действует |
На языке оригинала
|
26274,00
|
|
|
Оптика и фотоника. Подготовка чертежей оптических элементов и систем. Параметры и системы измерения дефектов поверхности
|
Действует |
На языке оригинала
|
7308,00
|
|
|
Анализ с использованием микропучка. Сканирующая электронная микроскопия. Аттестация сканирующих электронных микроскопов для количественных измерений
|
Действует |
На языке оригинала
|
33756,00
|
|
|
Микролучевой анализ. Растровая электронная микроскопия. Методы оценки четкости изображения
|
Действует |
На языке оригинала
|
37584,00
|
|
Страницы: ... / 8 / 9 / 10 / 11 / 12 / 13 / 14 / 15 |